[화담일보 = 문지호기자] 반도체 검사장비의 핵심 기술을 해외로 유출한 혐의를 받는 전직 직원 3명이 재판에 넘겨졌다. 지식재산처가 지난 14일 발표한 수사 결과에 따르면 대전지방공소청은 주요 피의자 1명을 구속 기소하고 나머지 2명을 불구속 기소했다.
기소된 이들은 국내 기업이 개발한 반도체 검사장비 관련 설계도면과 기술자료 등을 해외 제조기업에서 활용하도록 유출한 혐의를 받는다. 수사기관은 부정경쟁방지법과 산업기술보호법 위반 혐의를 적용했다.
지식재산처 기술경찰은 국가정보원이 제공한 첩보를 바탕으로 지난해 7월 수사에 착수했다. 피의자들이 해외에 머물러 있는 가운데, 해외 제조기업이 국내 설계·조달 공급망을 활용한 정황을 추적해 관련 자료를 확보했다고 설명했다.
이번 발표는 수사기관의 수사 결과와 기소 사실에 관한 것이다. 피고인들의 혐의에 대한 최종 유무죄 판단은 재판에서 이뤄지게 된다.
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